Dage XD7800VR或NT是專門用于大尺寸樣品的X光無損檢測的系統(tǒng)。

主要用于檢測：電子元器件、PCBA 電路板內(nèi)部焊接，短路，氣孔，氣泡，裂紋，及異物檢查。

主要特征：

1. 最小分辨率: 950 納米 (0 .95 微米 )；
2. 影像接收器左右偏轉角度各70 度（共 140 度），旋轉 360 度；
3. 最大檢測區(qū)域: 24 ” x 30” (610 x 762 mm )；
4. 最大樣品尺寸: 24.3” x 33” (617 x 838 mm )；
5. 最大樣品重量: 10KG ；
6. 系統(tǒng)最大放大倍數(shù): 至 5650 X ；
7. 圖像采集: 1.3 M 數(shù)字 CCD ；
8. 顯示器: 20" (DVI interface) 數(shù)字彩色平板 LCD

規(guī)格描述：

設備外形尺寸：　長： 1975mm 寬： 2400mm 高： 2060mm
重量：　　　　　3000kg
電源：　　　　　單相 220-230V, 最大 16A , 50 or 60 Hz
符合標準：　　　DEC; European CE Regulations; Safety Directive